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精密连接器电阻的测验办法

     在膜层厚度添加时,电阻敏捷增大,是膜层变成不良导体.可是,膜层在高触摸压力下会发作机械击穿,或在高电压,大电流下会发作电击穿.对某些小体积的衔接器规划的触摸压力相当小,使用场合仅为mA 和mV级,膜层电阻不易被击穿,可能影响电信号的传输.在GB5095《电在设备用机电元件根本实验规程及测量办法》中的触摸电阻测验办法之一"触摸电阻——毫伏法"规则,为了避免触摸件上绝缘薄膜被击穿,测验回路的开路电动势的直流或沟通峰值应不大于20mV,直流或沟通实验电流应不大于100mA.事实上这是一种低电平触摸电阻的测验办法,因而,有此请求的挑选者,因选用由低电平触摸电阻目标的衔接器.

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来自：精密连接器